JBWSL-W型小麥(玉米)不完善粒檢測儀
1.主要用途:用于小麥、玉米的不完善粒檢測。
2.技術(shù)參數(shù):
2.1 識別品種:白麥、紅麥、混合麥。
2.2 識別范圍:病斑粒、生霉粒、生芽粒、蟲蝕粒、破損粒、赤霉病粒等。
2.3 圖像精度:側(cè)視圖有效高度10mm時(shí)線數(shù)每像素不低于100LW/PH。
2.4 樣品量:50克。
2.5 單個(gè)樣品檢測用時(shí):<5分鐘。
2.6 準(zhǔn)確性、重復(fù)性、臺間差、穩(wěn)定性:符合LS/T6402-2017標(biāo)準(zhǔn)。
2.7 觸摸屏操作,實(shí)時(shí)顯示動(dòng)態(tài)檢測結(jié)果;數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、實(shí)時(shí)打印數(shù)據(jù)條防人工干預(yù)。
2.8 可升級測谷外糙米、整精米率等可選功能
3.售后服務(wù)要求:接到用戶維修儀器請求后,在2小時(shí)內(nèi)給予答復(fù)。保修期內(nèi)維修服務(wù)不收取服務(wù)費(fèi)用。保修期1年。